BS ISO 23729:2022
Surface chemical analysis. Atomic force microscopy. Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size
发布时间:2022-08-31 实施时间:


原子力显微镜是一种用于表面化学分析的重要工具。它可以通过扫描样品表面来获取高分辨率的图像,从而提供有关样品表面形貌和化学成分的信息。然而,由于探针尺寸的限制,原子力显微镜图像通常会出现扩散现象,导致图像模糊和失真。这种扩散现象是由于探针尺寸与样品表面的相互作用引起的。

为了解决这个问题,BS ISO 23729:2022提供了一种恢复原子力显微镜图像的方法。该方法基于数学模型,可以将扩散效应从原子力显微镜图像中去除,从而提高图像的分辨率和清晰度。该方法适用于各种类型的原子力显微镜,包括接触模式、非接触模式和侧向力模式。

BS ISO 23729:2022指南包括以下步骤:

1.获取原子力显微镜图像;
2.确定探针尺寸和样品表面的相互作用;
3.使用数学模型计算扩散效应;
4.将扩散效应从原子力显微镜图像中去除;
5.恢复原子力显微镜图像。

该指南还提供了一些实用的建议,以帮助用户正确地执行恢复程序。例如,用户应该选择适当的数学模型,并根据实际情况调整模型参数。此外,用户还应该注意保持样品表面的干净和平整,以避免其他因素对图像质量的影响。

总之,BS ISO 23729:2022为使用原子力显微镜进行表面化学分析的实验室和研究机构提供了一种有效的图像恢复程序,可以提高图像的分辨率和清晰度,从而更准确地分析样品表面的形貌和化学成分。

相关标准
- ISO 25178-2:2012 表面粗糙度.第2部分:术语、定义和表面粗糙度参数
- ISO 14644-1:2015 纯净室和相关受控环境的分类.第1部分:分类
- ISO 4287:1997 表面粗糙度.术语、定义和表面粗糙度参数
- ISO 14644-2:2015 纯净室和相关受控环境的分类.第2部分:监测要求和试验方法
- ISO 14644-3:2019 纯净室和相关受控环境的分类.第3部分:试验方法