BS ISO 14606:2022 - TC
Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials
发布时间:2023-02-28 实施时间:


溅射深度剖析是一种常用的表面化学分析技术,可以用于确定样品中元素的深度分布。该技术通常使用离子束或中性粒子束对样品进行轰击,从而使样品表面的原子被剥离并形成离子云。这些离子云可以通过质谱仪等仪器进行分析,以确定样品中元素的深度分布。

然而,溅射深度剖析技术的准确性和可靠性受到许多因素的影响,例如离子束的能量和角度、样品的化学成分和结构等。为了提高溅射深度剖析技术的准确性和可靠性,需要使用参考材料进行优化。

BS ISO 14606:2022 - TC提供了一种使用分层系统作为参考材料进行优化的方法。分层系统是一种由多个层组成的材料,每个层的化学成分和厚度都已知。通过对分层系统进行溅射深度剖析,可以确定每个层中元素的深度分布,从而确定样品中元素的深度分布。

该标准提供了一些关于分层系统的选择、制备和使用的指南。例如,分层系统应该具有与样品相似的化学成分和结构,以确保优化结果的准确性。分层系统的制备应该遵循一定的标准程序,以确保每个层的厚度和化学成分的准确性。在使用分层系统进行优化时,应该注意离子束的能量和角度等参数的选择,以确保优化结果的可靠性。

BS ISO 14606:2022 - TC还提供了一些关于优化结果的解释和报告的指南。例如,应该报告每个元素的深度分布和相对含量,以及优化结果的误差范围和置信度水平等信息。

总之,BS ISO 14606:2022 - TC提供了一种使用分层系统作为参考材料进行溅射深度剖析技术优化的方法,以提高该技术的准确性和可靠性。该标准的实施可以帮助实验室和企业提高表面化学分析的质量和效率,从而促进科学研究和工业生产的发展。

相关标准
- BS EN ISO 18115:2016 表面化学分析. X射线光电子能谱. 数据处理
- BS EN ISO 14647:2019 表面化学分析. 原子力显微镜. 标准样品和校准方法
- BS EN ISO 14644-1:2015 纯净室和相关受控环境的分类. 空气洁净度
- BS EN ISO 14644-2:2015 纯净室和相关受控环境的分类. 测定空气洁净度
- BS EN ISO 14644-3:2019 纯净室和相关受控环境的分类. 测定空气洁净度的方法