航空电子设备在高空飞行时，会受到大气辐射的影响，这可能会导致单事件效应的发生。单事件效应是指在电子器件中发生的单个粒子撞击所引起的瞬态故障。这种故障可能会导致电子设备的失效，从而影响飞行安全。因此，对于航空电子设备的设计，需要特别考虑大气辐射效应和单事件效应的影响。

BS IEC 62396-4:2013 标准规定了航空电子设备在大气辐射环境下的设计要求，特别是针对高压电子设计中的单事件效应进行了详细的规定。该标准要求在设计过程中，需要进行全面的过程管理，以确保电子设备的可靠性和稳定性。具体要求包括以下几个方面：

1. 设计过程中需要考虑大气辐射效应和单事件效应的影响，对电子设备进行全面的分析和评估。

2. 需要采用可靠的电子器件和材料，以提高电子设备的抗辐射能力和稳定性。

3. 需要采用合适的电路设计和布局，以减少单事件效应的发生。

4. 需要进行全面的测试和验证，以确保电子设备的可靠性和稳定性。

5. 需要建立完善的质量管理体系，对电子设备的生产和维护进行全面的管理和控制。

BS IEC 62396-4:2013 标准的实施，可以有效提高航空电子设备的可靠性和稳定性，保障飞行安全。同时，该标准也可以为电子设备的设计和生产提供参考和指导。

相关标准
- BS EN 62396-1:2017 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Overview
- BS EN 62396-2:2017 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Single event effects
- BS EN 62396-3:2017 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 3: Single event effects verification
- BS EN 62396-5:2017 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 5: Design of digital systems
- BS EN 62396-6:2017 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 6: Design of analogue systems