BS EN ISO 12179:2022 - TC标准规定了接触式（探针）仪器的校准方法，以确保测量结果的准确性和可重复性。该标准要求使用标准样品进行校准，以检验仪器的准确性和稳定性。标准样品应符合ISO 5436-1的要求，具有已知的表面纹理参数。

该标准还规定了校准过程中需要考虑的因素，包括探针的形状、尺寸和材料，以及测量力的大小和方向。此外，该标准还要求在校准过程中记录所有相关参数，以便进行后续的数据分析和比较。

BS EN ISO 12179:2022 - TC标准还规定了测量结果的表示方法，包括表面纹理参数的符号和单位。该标准还提供了一些示例，以帮助用户理解如何使用表面纹理参数来描述不同类型的表面纹理。

总之，BS EN ISO 12179:2022 - TC标准为表面纹理测量提供了一种标准化的方法，以确保测量结果的准确性和可重复性。该标准适用于各种材料的表面纹理测量，包括金属、塑料、陶瓷等。

相关标准
- ISO 4287:1997 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Terms, definitions and surface texture parameters
- ISO 5436-1:2000 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Nominal characteristics of contact (stylus) instruments - Part 1: Instruments for profiling
- ISO 11562:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Metrological characteristics of phase correct filters
- ISO 13565-2:1996 Geometrical Product Specifications (GPS) - Surface texture: Profile method - Filered Gaussian profile waviness - Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters
- ISO 16610-21:2016 Geometrical Product Specifications (GPS) - Filtration - Part 21: Linear profile filters: Gaussian filters