BS EN IEC 60749-28:2022 - TC
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods - Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). device level
发布时间：2022-09-30 实施时间：


静电放电是一种常见的电子元器件失效原因，特别是对于半导体器件来说。静电放电会导致器件损坏或失效，因此需要对半导体器件进行静电放电敏感性测试。BS EN IEC 60749-28:2022 - TC标准提供了一种机械和气候测试方法，用于评估半导体器件对静电放电的敏感性。

该标准主要涉及带电器件模型和器件级别的测试。带电器件模型是一种用于模拟静电放电的测试方法，可以评估半导体器件对静电放电的敏感性。器件级别的测试是指在器件级别进行测试，以评估半导体器件对静电放电的敏感性。

BS EN IEC 60749-28:2022 - TC标准规定了测试的条件和程序，包括测试设备、测试方法、测试环境和测试参数等。测试设备包括带电器件模型和测试仪器，测试方法包括测试过程和测试结果的评估，测试环境包括温度、湿度和大气压力等，测试参数包括静电放电电压和放电时间等。

该标准还规定了测试结果的评估方法，包括测试结果的分类和测试结果的解释。测试结果的分类是指将测试结果分为合格和不合格两类，测试结果的解释是指对测试结果进行解释和分析，以确定半导体器件对静电放电的敏感性。

BS EN IEC 60749-28:2022 - TC标准适用于半导体器件的静电放电敏感性测试，可以用于评估半导体器件的质量和可靠性。该标准适用于半导体器件的制造商、供应商和用户等。

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