BS IEC 62047-42:2022
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices - Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
发布时间:2022-10-24 实施时间:


BS IEC 62047-42:2022标准是一项针对压电MEMS悬臂梁的电机械转换特性测量方法的标准。该标准主要包括以下内容:

1. 术语和定义:该部分主要对标准中使用的术语和定义进行了说明,以便读者更好地理解和使用该标准。

2. 测量方法:该部分详细介绍了压电MEMS悬臂梁的电机械转换特性的测量方法,包括压电效应、电容效应、机械振动效应等。其中,压电效应的测量方法包括静态测量和动态测量两种方法;电容效应的测量方法包括电容测量和电压测量两种方法;机械振动效应的测量方法包括自由振动法和强迫振动法两种方法。该部分还介绍了测量时需要注意的事项和测量结果的处理方法。

3. 测量装置:该部分介绍了压电MEMS悬臂梁的电机械转换特性测量时所需的测量装置,包括压电效应测量装置、电容效应测量装置和机械振动效应测量装置。该部分还对测量装置的性能要求进行了说明。

4. 测量结果的表示和处理:该部分介绍了测量结果的表示方法和处理方法,包括测量数据的记录、处理和分析等。

BS IEC 62047-42:2022标准的实施可以提高压电MEMS悬臂梁的电机械转换特性测量的准确性和可重复性,为MEMS器件的设计、制造和应用提供可靠的数据支持。同时,该标准的实施还可以促进国际间的技术交流和合作,推动MEMS技术的发展和应用。

相关标准
1. BS EN 62326-1:2018 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems (MEMS) - Part 1: General requirements
2. BS EN 62326-2:2018 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems (MEMS) - Part 2: Test method for the determination of the pull-in voltage of MEMS electrostatic actuators
3. BS EN 62326-3:2018 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems (MEMS) - Part 3: Test method for the determination of the release voltage of MEMS electrostatic actuators
4. BS EN 62326-4:2018 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems (MEMS) - Part 4: Test method for the determination of the actuation time of MEMS electrostatic actuators
5. BS EN 62326-5:2018 Semiconductor devices - Micro-electromechanical systems (MEMS) - Part 5: Test method for the determination of the mechanical shock resistance of MEMS sensors