超导带光子探测器是一种基于超导带材料制造的光子探测器，其主要用于检测光子的存在和计数。与传统的光子探测器相比，超导带光子探测器具有更高的探测效率和更低的噪声水平，因此在光子计数领域具有广泛的应用前景。

然而，超导带光子探测器在实际应用中存在着暗计数率的问题。暗计数率是指在没有光子输入的情况下，探测器自身产生的计数率。暗计数率越高，探测器的信噪比就越低，从而影响其在实际应用中的准确性和可靠性。因此，对超导带光子探测器的暗计数率进行测量和控制是非常重要的。

BS EN IEC 61788-22-3:2022标准规定了超导带光子探测器的暗计数率的测量方法。该标准要求在恒定的温度下，通过改变探测器的偏置电流和阈值电压，测量探测器的暗计数率。具体来说，该标准要求在不同的偏置电流和阈值电压下，测量探测器在一定时间内的计数率，并计算出其暗计数率。

该标准还要求在测量过程中，要保证探测器处于稳定状态，并且要排除外界干扰因素的影响。此外，该标准还要求对测量结果进行统计分析，以确定探测器的暗计数率是否符合要求。

总之，BS EN IEC 61788-22-3:2022标准为超导带光子探测器的暗计数率提供了详细的测量方法和要求，有助于确保超导带光子探测器在实际应用中的可靠性和准确性。

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