23/30468947 DC
BS EN 62276. Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
发布时间:2023-01-30 实施时间:


单晶片表面声波器件是一种基于表面声波效应的电子器件,具有体积小、重量轻、功耗低、频率高、带宽宽等优点,广泛应用于无线电通信、传感器和滤波器等领域。单晶片表面声波器件的性能主要取决于单晶片的质量,因此制备高质量的单晶片对于提高器件性能至关重要。

23/30468947 DC标准规定了单晶片表面声波器件的尺寸、形状、表面质量、电性能、机械性能、可靠性和测量方法等方面的要求。其中,尺寸和形状要求单晶片的直径、厚度、倾斜度、边缘形状等符合标准规定。表面质量要求单晶片表面光洁度高、无裂纹、无气泡、无杂质等。电性能要求单晶片具有良好的电学性能,如频率响应、带宽、损耗等。机械性能要求单晶片具有良好的机械强度和稳定性,能够承受外力和温度变化等影响。可靠性要求单晶片具有良好的长期稳定性和耐久性,能够在长时间内保持良好的性能。测量方法要求采用标准化的测量方法,确保测量结果的准确性和可比性。

23/30468947 DC标准的制定对于提高单晶片表面声波器件的质量和性能具有重要意义。该标准的实施可以促进单晶片表面声波器件的生产和应用,推动相关领域的技术发展和产业进步。

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