BS EN IEC 61124:2023 - TC
Reliability testing. Compliance tests for constant failure rate and constant failure intensity
发布时间:2023-04-30 实施时间:


BS EN IEC 61124:2023 - TC标准是一项可靠性测试标准,旨在为常数失效率和常数失效强度的合规性测试提供指导。该标准适用于电子设备和系统,包括集成电路、半导体器件、电子元件和电子系统。该标准的目的是确定设备或系统的可靠性,以便在设计、制造和使用过程中提供指导。

该标准要求进行常数失效率和常数失效强度的合规性测试。常数失效率是指在设备或系统的使用寿命内,设备或系统的失效率保持不变的情况。常数失效强度是指在设备或系统的使用寿命内,设备或系统的失效强度保持不变的情况。这些测试可以帮助确定设备或系统的可靠性,并提供指导以改进设计、制造和使用过程。

该标准还要求进行可靠性增长测试。可靠性增长测试是指在设备或系统的使用寿命内,设备或系统的可靠性逐渐提高的情况。这些测试可以帮助确定设备或系统的可靠性,并提供指导以改进设计、制造和使用过程。

该标准还要求进行可靠性预测。可靠性预测是指根据设备或系统的设计、制造和使用情况,预测设备或系统在未来的使用中的可靠性。这些测试可以帮助确定设备或系统的可靠性,并提供指导以改进设计、制造和使用过程。

总之,BS EN IEC 61124:2023 - TC标准是一项可靠性测试标准,旨在为常数失效率和常数失效强度的合规性测试提供指导。该标准适用于电子设备和系统,包括集成电路、半导体器件、电子元件和电子系统。该标准的目的是确定设备或系统的可靠性,以便在设计、制造和使用过程中提供指导。

相关标准
- BS EN IEC 61709:2017 - TC 可靠性测试。加速试验和可靠性增长试验的统计分析
- BS EN IEC 61025:2020 - TC 可靠性测试。多因素环境试验
- BS EN IEC 60749-34:2019 - TC 半导体器件。可靠性试验。高温存储试验
- BS EN IEC 60068-2-14:2009 - TC 环境试验。试验N:温度变化试验
- BS EN IEC 60068-2-30:2015 - TC 环境试验。试验Db:振动(半正弦波)试验